上海雙旭UM-1D穿透涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁性感應(yīng)/渦流原理（雙功能）
測(cè)量范圍：0~2000μm（具體取決于探頭配置）
測(cè)量精度：±(1~3%H+1μm)（H為被測(cè)厚度）
最小曲率：凸5mm / 凹25mm
最小測(cè)量面積：直徑20mm
最小基體厚度：0.5mm（磁感應(yīng)）/ 0.3mm（渦流）
顯示分辨率：0.1μm / 1μm（自動(dòng)轉(zhuǎn)換）
單位轉(zhuǎn)換：μm / mil（可切換）
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)：最大值、最小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測(cè)量次數(shù)
工作溫度：0℃~40℃
存儲(chǔ)溫度：-20℃~70℃
電源：2節(jié)AAA（7號(hào)）堿性電池
自動(dòng)關(guān)機(jī)：約5分鐘無操作后自動(dòng)關(guān)機(jī)
使用注意事項(xiàng)
基體要求：確�；w金屬厚度大于最小基體厚度要求，否則測(cè)量不準(zhǔn)確。
表面處理：測(cè)量前需清除待測(cè)表面附著的雜質(zhì)，如灰塵、油污及銹蝕。
溫度影響：避免在極高或極低溫度下使用，超出工作溫度范圍會(huì)影響測(cè)量精度。
校準(zhǔn)操作：使用前必須根據(jù)測(cè)量材料在無涂層基體上進(jìn)行校準(zhǔn)，定期校驗(yàn)。
探頭保護(hù)：測(cè)量時(shí)探頭需垂直并輕觸被測(cè)表面，避免磨損或撞擊探頭。
干擾規(guī)避：測(cè)量時(shí)遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境，防止電磁干擾導(dǎo)致數(shù)據(jù)異常。
電池管理：長期不使用應(yīng)取出電池，防止電池漏液損壞儀器。
