上海雙旭UM-1D穿透涂層測厚儀參數(shù)
產(chǎn)品型號：UM-1D
測量原理：磁感應(yīng)/渦流
測量范圍：0~2000μm（鋼/鐵基體）
基體要求：鐵基/鋼基體（Fe），非鐵金屬基體（NFe）
測量精度：±(1~3%讀數(shù)+1μm)
最小曲率：凸5mm，凹25mm
最小面積：直徑10mm
最小基體厚度：Fe 0.2mm，NFe 0.05mm
顯示方式：LCD液晶顯示
單位切換：μm/mil
校準方式：零點校準、兩點校準
數(shù)據(jù)存儲：通常具備基礎(chǔ)數(shù)據(jù)存儲功能（具體容量需參考最新說明書）
電源：AA電池
工作溫度：0℃~40℃
使用注意事項
校準：使用前必須在無涂層的同材質(zhì)基體上進行零點校準，并在標準片上進行量程校準，確保測量準確。
基體影響：測量結(jié)果受基體材質(zhì)、厚度、曲率及表面粗糙度影響，超出儀器規(guī)定的最小基體厚度和曲率要求將導(dǎo)致誤差增大。
表面清潔：測量前需確保被測表面清潔，無附著雜質(zhì)、油污及強電磁干擾。
探頭保護：測量時探頭需垂直、平穩(wěn)接觸被測表面，避免劃傷或撞擊探頭晶體。
溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化環(huán)境中使用，以免影響電子元件穩(wěn)定性與測量精度。
電池檢查：長期不使用應(yīng)取出電池，電量不足時及時更換，以防電池漏液損壞儀器。
特殊涂層：對于導(dǎo)電涂層（如銅、鋁等）或多層復(fù)合涂層，可能無法直接準確測量，需根據(jù)儀器能力評估或采用其他方法驗證。
