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上海雙旭CM10FN涂鍍層測(cè)厚儀

上海雙旭CM10FN是一款磁性/渦流兩用型涂鍍層測(cè)厚儀，適用于精確測(cè)量鐵基及非鐵基體上的涂層、鍍層厚度。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量原理：磁性感應(yīng)（用于鐵基）/渦流（用于非鐵基）
• 測(cè)量范圍：0~1250μm（具體分段視探頭和校準(zhǔn)而定）
• 分辨率：0.1μm / 1μm
• 測(cè)量精度：±(1~3%讀數(shù)+零點(diǎn)穩(wěn)定值)
• 最小曲率：凸5mm / 凹5mm
• 最小測(cè)量面積：直徑10mm
• 最小基體厚度：鐵基0.2mm / 非鐵基0.05mm
• 校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)
• 顯示：LCD數(shù)字顯示
• 電源：5號(hào)電池
• 工作溫度：0℃~40℃

使用注意事項(xiàng)

• 基體識(shí)別：測(cè)量前必須正確判斷基體材質(zhì)（鐵基或非鐵基），并選擇對(duì)應(yīng)測(cè)量模式。
• 表面清潔：確保被測(cè)表面清潔，無(wú)油污、灰塵、銹跡及附著物。
• 校準(zhǔn)：使用前需在相同基體、無(wú)涂層的標(biāo)準(zhǔn)片或被測(cè)物裸露基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)。對(duì)于精確測(cè)量，建議使用與被測(cè)涂層厚度接近的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)。
• 測(cè)量壓力：探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地輕觸被測(cè)表面，避免施加過(guò)大壓力或傾斜測(cè)量。
• 環(huán)境干擾：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或劇烈溫度波動(dòng)的環(huán)境中使用。
• 基體厚度：確�；�體厚度大于“最小基體厚度”要求，否則測(cè)量結(jié)果可能不準(zhǔn)確。
• 曲率與邊緣：在彎曲表面或邊緣測(cè)量時(shí)，需確保探頭與測(cè)試面充分接觸，否則可能讀數(shù)不穩(wěn)。建議在平整區(qū)域測(cè)量。
• 探頭保護(hù)：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，測(cè)量后清潔探頭端面。
• 電池狀態(tài)：低電量可能導(dǎo)致測(cè)量誤差，應(yīng)及時(shí)更換電池。
• 數(shù)據(jù)解讀：對(duì)于粗糙或多層涂層，單個(gè)測(cè)量點(diǎn)代表性有限，應(yīng)在不同位置多次測(cè)量取平均值。