MX-IR / BX-IR半導(dǎo)體/FPD檢查顯微鏡河南省周口市非標(biāo)加工




USPM-RU III鏡片反射率測(cè)定儀
USPM-RU III反射儀可精確測(cè)量當(dāng)前分光儀無(wú)法測(cè)量的微小、超薄樣本的光譜反射率,不會(huì)與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。 是最適合測(cè)量曲面反射率、鍍膜評(píng)價(jià)、微小部品的反射率測(cè)定系統(tǒng)。用物鏡對(duì)焦于樣本表面的微小光斑(?60 μm),可以測(cè)定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。
1、采用特殊光學(xué)系統(tǒng),消除背面反射光。
2、不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測(cè)定表面的反射率。
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MX-IR / BX-IR半導(dǎo)體/FPD檢查顯微鏡河南省周口市非標(biāo)加工
上海雙旭MX-IR / BX-IR半導(dǎo)體/FPD檢查顯微鏡(非標(biāo)加工定制版)
產(chǎn)品使用說(shuō)明:
本設(shè)備專(zhuān)為河南省周口市非標(biāo)加工工藝定制,適用于半導(dǎo)體晶圓、FPD(平板顯示器)及精密元件的微觀缺陷檢測(cè)。操作前請(qǐng)確認(rèn)電源為220V/50Hz,環(huán)境溫度15-30°C。步驟1:將樣品置于載物臺(tái),使用XY軸粗調(diào)旋鈕定位;步驟2:旋轉(zhuǎn)調(diào)焦手輪至圖像清晰,物鏡倍數(shù)可選5X/10X/20X/50X;步驟3:開(kāi)啟LED透射/反射照明,長(zhǎng)按亮度調(diào)節(jié)鍵至理想對(duì)比度;步驟4:連接工業(yè)相機(jī)或目鏡(可選),按“自動(dòng)白平衡”按鈕校準(zhǔn)色彩。注意:非標(biāo)加工件需定期用無(wú)塵布清潔導(dǎo)軌,油污環(huán)境建議每班次后潤(rùn)滑。
核心優(yōu)點(diǎn):
1.超高分辨率物鏡:針對(duì)非標(biāo)加工毛刺、劃痕等微米級(jí)缺陷,紅外穿透模組(IR/BX系列)可穿透金屬鍍層,檢測(cè)深層隱裂,避免傳統(tǒng)光學(xué)的誤判。2.模塊化雙光源系統(tǒng):30W鹵素?zé)襞c長(zhǎng)壽命LED復(fù)合,適配不同質(zhì)地(如透明PET、金屬基板)的FPD樣品,降低反光干擾。3.人體工學(xué)改造:周口定制版增加阻尼式升降臺(tái)和防震橡膠墊,適合連續(xù)作業(yè),減少操作疲勞。4.數(shù)據(jù)追溯功能:內(nèi)置測(cè)量軟件支持非標(biāo)件公差比對(duì),自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)告(含日期、缺陷坐標(biāo)),提升品控一致性。 |