涂層測(cè)厚儀leeb25O
上海雙旭涂層測(cè)厚儀Leeb250
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁性感應(yīng)/渦流感應(yīng)（自動(dòng)識(shí)別基體）
測(cè)量范圍：0~1250μm（具體取決于探頭和校準(zhǔn)）
分辨率：0.1μm / 1μm（自動(dòng)切換）
測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
最小曲率：凸面5mm，凹面25mm
最小測(cè)量面積：直徑10mm
最薄基體：0.3mm（磁性法），0.05mm（渦流法）
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備基礎(chǔ)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能（具體容量需核實(shí)）
電源：2節(jié)AA電池
顯示：LCD數(shù)字顯示
工作溫度：0°C ~ 40°C
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和粗糙度的無(wú)涂層基體上進(jìn)行校準(zhǔn)，并定期核查。
基體影響：基體金屬的材質(zhì)、厚度、曲率、表面粗糙度及機(jī)械加工方向（如軋制方向）會(huì)顯著影響測(cè)量精度。
表面清潔：確保被測(cè)表面清潔，無(wú)油污、灰塵、銹蝕及附著物。測(cè)量前需去除表面粗糙的氧化層。
探頭放置：測(cè)量時(shí)探頭需與被測(cè)面垂直、穩(wěn)定接觸，避免晃動(dòng)或傾斜。施加壓力需恒定均勻。
邊緣效應(yīng)：避免在靠近邊緣、內(nèi)角或狹窄區(qū)域測(cè)量，應(yīng)與邊界保持至少與探頭直徑相當(dāng)?shù)木嚯x。
溫度：避免在極端溫度下使用，儀器與試件應(yīng)處于相同溫度環(huán)境，防止熱脹冷縮導(dǎo)致誤差。
磁場(chǎng)干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)電磁場(chǎng)環(huán)境（如大型電機(jī)、變壓器），以免干擾磁性測(cè)量原理。
維護(hù)：保持探頭測(cè)量面清潔、無(wú)磨損。長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)取出電池。 |
