試塊CSK-IB
上海雙旭試塊CSK-IB產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品參數(shù)
材質(zhì)：20#鋼或45#鋼，經(jīng)調(diào)質(zhì)處理，硬度適中。
尺寸規(guī)格：標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸為長(zhǎng)250mm，寬50mm，厚度通常為10mm或根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)定制。
反射體配置：包含橫孔、平底孔、V型槽等標(biāo)準(zhǔn)人工缺陷，用于校準(zhǔn)和測(cè)試超聲波探傷儀的性能。
表面粗糙度：Ra ≤ 1.6μm，確保超聲波耦合效果穩(wěn)定。
適用標(biāo)準(zhǔn)：符合JB/T 10063-1999《超聲波探傷用試塊技術(shù)條件》及相關(guān)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
使用注意事項(xiàng)
耦合劑選擇：使用時(shí)需涂抹適量耦合劑（如機(jī)油、甘油或?qū)Ｓ民詈蟿�，確保探頭與試塊表面緊密接觸，避免空氣間隙影響檢測(cè)精度。
清潔維護(hù)：使用后及時(shí)清潔試塊表面殘留耦合劑，防止銹蝕或污染；存放于干燥環(huán)境，避免磕碰劃傷。
校準(zhǔn)環(huán)境：應(yīng)在溫度穩(wěn)定（建議10-30℃）、無(wú)強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下進(jìn)行校準(zhǔn)操作，以減少外部因素對(duì)超聲波信號(hào)的干擾。
定期驗(yàn)證：試塊本身需定期送檢，確保其反射體尺寸和聲學(xué)性能符合標(biāo)準(zhǔn)要求，避免因磨損或變形導(dǎo)致校準(zhǔn)誤差。
操作規(guī)范：探頭在試塊表面移動(dòng)時(shí)應(yīng)平穩(wěn)均勻，避免用力按壓造成磨損；校準(zhǔn)過(guò)程中需記錄反射波幅、位置等數(shù)據(jù)以供比對(duì)分析。 |
