測(cè)試夾具YD-4
上海雙旭測(cè)試夾具YD-4介紹
產(chǎn)品參數(shù)
型號(hào)：YD-4
適用測(cè)試類型：電子元器件、PCB板、模塊等功能與性能測(cè)試
接觸方式：探針/彈片接觸，支持多點(diǎn)測(cè)試
最大測(cè)試點(diǎn)數(shù)：通常支持定制，標(biāo)準(zhǔn)版支持?jǐn)?shù)十至上百點(diǎn)
夾具材料：主體為鋁合金或工程塑料，探針/彈片為鈹銅/磷銅鍍金
接口類型：DB、D-Sub、板對(duì)板連接器或定制化接口
耐壓等級(jí)：通常支持低壓測(cè)試（具體需根據(jù)配置確定）
操作溫度范圍：-10℃至+60℃（典型值）
機(jī)械壽命：探針接觸次數(shù)可達(dá)10萬(wàn)次以上（視具體探針規(guī)格）
使用注意事項(xiàng)
1. 安裝對(duì)位：使用前需確保被測(cè)件與夾具定位準(zhǔn)確，避免探針錯(cuò)位導(dǎo)致?lián)p壞。
2. 壓力控制：下壓力度需均勻適中，過(guò)大會(huì)損傷探針或被測(cè)件，過(guò)小會(huì)導(dǎo)致接觸不良。
3. 清潔維護(hù)：定期清潔探針和接觸點(diǎn)，防止氧化或污物影響導(dǎo)電性能。
4. 電氣安全：測(cè)試前確認(rèn)電源和信號(hào)處于關(guān)閉狀態(tài)，避免帶電插拔。
5. 環(huán)境要求：避免在潮濕、多塵或腐蝕性環(huán)境中使用，防止金屬部件銹蝕。
6. 存儲(chǔ)條件：長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)，應(yīng)放置于干燥防塵箱內(nèi)，避免機(jī)械結(jié)構(gòu)變形。
7. 定制適配：非標(biāo)準(zhǔn)件測(cè)試需提前提供被測(cè)件尺寸和接口圖紙，以確保夾具兼容性。 |
