超聲波探傷儀leeb521
上海雙旭超聲波探傷儀LEEB521產品介紹
產品參數(shù)
工作頻率范圍：0.5MHz - 20MHz
增益范圍：0 - 110dB，步進0.1/2/6dB
探測范圍：0 - 10000mm（鋼縱波）
聲速范圍：1000 - 9999m/s
脈沖移位：-20 - 3400μs
探頭延時：0 - 99.99μs
垂直線性誤差：≤3%
水平線性誤差：≤0.1%
動態(tài)范圍：≥36dB
靈敏度余量：≥65dB（2.5P20探頭）
分辨力：≥40dB（2.5P20探頭）
顯示屏：5.7英寸TFT彩色液晶屏，分辨率640×480
數(shù)據(jù)存儲：支持海量波形、參數(shù)存儲
電池：鋰電池，連續(xù)工作≥8小時
工作溫度：-20℃ - 50℃
外殼防護等級：IP65
尺寸與重量：約260mm×180mm×50mm，約1.5kg（含電池）
使用注意事項
環(huán)境要求：避免在高溫、高濕、強電磁干擾及腐蝕性環(huán)境中使用或存放儀器。
開機檢查：使用前檢查電池電量、探頭連接線及接頭是否完好，確保儀器接地良好。
探頭匹配：根據(jù)檢測材料、缺陷類型及標準要求選擇合適的探頭頻率與角度，并校準探頭零點與K值。
校準與標定：每次檢測前需使用標準試塊（如CSK-IA、RB系列等）校準儀器靈敏度、線性與聲速。
耦合劑：確保使用足量且合適的耦合劑（如機油、甘油等），保持探頭與被測面穩(wěn)定耦合。
掃描操作：掃描時探頭應平穩(wěn)勻速移動，避免傾斜、跳動或壓力不均，覆蓋規(guī)定的檢測區(qū)域。
數(shù)據(jù)記錄：及時保存檢測波形與參數(shù)，記錄缺陷位置、當量、深度等信息，避免數(shù)據(jù)丟失。
維護保養(yǎng)：使用后清潔儀器表面與探頭，定期檢查電池狀態(tài)，長期不用時應每三個月充電一次。
安全警告：禁止在易燃易爆環(huán)境中使用，勿擅自拆卸儀器，維修應由專業(yè)人員進行。 |
