HPS2523 鍍膜方塊電阻測試儀

上海雙旭 HPS2523 鍍膜方塊電阻測試儀

產品概述

HPS2523是一款專用于測量薄膜、鍍層材料方塊電阻（面電阻）的精密測試儀器，廣泛應用于半導體、光伏、顯示面板、新材料研發(fā)與質量控制等領域。

產品參數(shù)

• 測量范圍： 0.1 mΩ/sq ~ 2 MΩ/sq（典型值，具體分檔需參考手冊）
• 測量精度： ±（讀數(shù)% + 底數(shù)）
• 測試電流： 多檔可編程電流源
• 顯示方式： 數(shù)字液晶顯示，直接讀取方塊電阻值
• 探頭配置： 標配四探針探頭，探針間距可選
• 通信接口： 通常配備RS-232或USB接口，用于數(shù)據(jù)輸出與遠程控制
• 電源要求： AC 220V ±10%， 50/60Hz
• 工作環(huán)境： 溫度 0~40°C， 濕度 ≤80% RH

使用注意事項

• 校準： 使用前需按規(guī)定進行校準，確保測量準確性。
• 探針接觸： 測量時需確保四探針與樣品表面垂直、穩(wěn)定接觸，壓力均勻，避免劃傷樣品或探針。
• 樣品要求： 待測樣品表面應平整、清潔、無氧化層或污染物，面積需大于探針陣列覆蓋范圍。
• 環(huán)境干擾： 避免在強電磁干擾、震動或溫濕度劇烈波動的環(huán)境中使用。
• 安全操作： 儀器接地必須可靠，通電時請勿觸摸內部電路或探針頭金屬部分。
• 維護保養(yǎng)： 定期清潔探針，檢查線纜連接，長期不用時應存放于干燥環(huán)境。

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