抗干擾精密介質(zhì)損耗測量儀 CT6000K
上海雙旭抗干擾精密介質(zhì)損耗測量儀 CT6000K
產(chǎn)品參數(shù)：
- 型號：CT6000K
- 測試范圍：介質(zhì)損耗因數(shù)（tanδ）0.0001～1.0000；電容量Cx 10pF～200μF
- 分辨率：tanδ 0.0001；電容 0.01pF
- 準(zhǔn)確度：tanδ ±(讀數(shù)×1%+0.0005)；電容 ±(讀數(shù)×1%+1pF)
- 工作電壓：AC 220V±10%，50Hz
- 輸出電壓：0～10kV連續(xù)可調(diào)，精度±1%
- 試驗頻率：50Hz、60Hz自動切換或手動設(shè)定（45～65Hz）
- 抗干擾方式：變頻/移相/倒相/矢量運算復(fù)合抗干擾技術(shù)，可抑制共模≥80dB，差模≥60dB
- 測量通道：單通道高精度數(shù)字電橋
- 溫度范圍：工作溫度 -10℃～+50℃，濕度 ≤85%RH
- 顯示：4.3英寸TFT彩色液晶屏，實時曲線+數(shù)字雙顯
- 接口：RS232、USB、以太網(wǎng)，支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出與遠(yuǎn)程控制
- 尺寸/重量：430mm×350mm×180mm，約12kg
產(chǎn)品介紹：
CT6000K為上海雙旭電子針對高壓電氣設(shè)備絕緣檢測開發(fā)的高精度抗干擾介質(zhì)損耗測量儀，采用復(fù)合抗干擾算法與數(shù)字鎖相技術(shù)，可在強電場、強磁場及復(fù)雜電磁環(huán)境下穩(wěn)定獲取tanδ與電容值。設(shè)備適用于變壓器、互感器、套管、電容器、電纜等試品的現(xiàn)場及實驗室絕緣評估，滿足DL/T 962、GB/T 5654等標(biāo)準(zhǔn)。
核心電橋結(jié)構(gòu)配合高速DSP與FPGA完成信號采集與處理，實現(xiàn)寬量程、低噪聲測量；內(nèi)置多種抗干擾模式可自適應(yīng)工況，有效消除工頻諧波與空間輻射影響。測試過程全自動平衡與校準(zhǔn)，減少人為誤差。配備大屏顯示與多接口，便于現(xiàn)場記錄與分析。
使用注意事項：
- 儀器須可靠接地，接地電阻≤4Ω，防止高壓觸電與干擾耦合。
- 高壓輸出前確認(rèn)試品與測試線連接無誤，嚴(yán)禁帶高壓插拔測試線。
- 在高壓狀態(tài)下禁止觸碰試品金屬部分及裸露端子，保持安全距離。
- 測試環(huán)境避免強射頻發(fā)射源、大功率電機及電焊機等干擾源近距離工作。
- 定期校驗零點與量程，長期停用應(yīng)斷開電源并放電后存放。
- 高壓輸出端子及測試線需定期檢查絕緣狀態(tài)，破損立即更換。
- 不要在潮濕、高溫、粉塵嚴(yán)重環(huán)境使用，避免液體滲入機殼。
- 更換保險絲應(yīng)使用同規(guī)格快熔型，嚴(yán)禁用導(dǎo)線替代。
- 非專業(yè)人員在無培訓(xùn)情況下不得進行內(nèi)部維修與高壓接線操作。
- 長時間高電壓測試后，應(yīng)等待內(nèi)部電容充分放電再拆卸試品。
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